Оценка траектории низкоэнергетического электронного пучка под воздействием внешних полей

Not scheduled
15m
Зал ученого совета, каб. 200 (ИКФИА СО РАН)

Зал ученого совета, каб. 200

ИКФИА СО РАН

Якутск, пр. Ленина 31

Speaker

Mr Иван И. Романов (СВФУ ФТИ)

Description

Работа посвящена исследованию и оценке воздействия внешнего электромагнитного поля на траекторию частиц, в частности электронных лучей при эмиссии. Отметим, что задача решается в рамках геометрической оптики, поэтому электронная волна рассматривается, как некоторые направленные лучи, в частности, электронные лучи (в рамках скалярной теории дифракции – электронная волна). Эмиссия – это возбуждение электронов от кончика острийного катода внешним воздействием. В зависимости от типа последнего выделяют различные виды эмиссии: фотоэлектронная, вторичная, термоэлектронная и автоэмиссионная. Под явлением автоэлектронной эмиссии предполагают физический процесс, сущность которого заключается в эмиссии электронов с поверхности проводников под воздействием мощного внешнего электрического поля. Этот тип эмиссии электронов считается единственным типом электронной эмиссии, не требующим предварительного возбуждения электронов. Обычно автоэлектронная эмиссия реализуется в электронных микроскопах с энергиями порядка кэВ, электронный пучок, который фокусируется с помощью электронных линз. Данный тип микроскопов относится к высокоэнергетическим электронным микроскопам или иначе к классическим электронным микроскопам. Существует и другой класс электронных микроскопов, предполагающих работу на низких энергиях эВ. Один из наиболее перспективных в этом плане является реализация метода осевой голографии Габора, в иностранной литературе такие микроскопы известны, как Low Energy Electron Point Source Microscopy (LEEPS). Группой авторов было выявлено, что в таких микроскопах (LEEPS) электронный пучок чрезвычайно чувствителен, что является значимым недостатком, но в то же время и достоинством, так как есть возможность визуализировать любые флуктуации.
В данной работе предлагается математические модели оценки воздействия внешних полей на низкоэнергетический электронный пучок. Математическая модель основывается на методе конечных элементов.
Важным в модели является геометрия острийного катода. Поэтому первым этапом работы являлось разработка моделей различных геометрий острийных катодов.

Primary author

Mr Иван И. Романов (СВФУ ФТИ)

Co-author

Dr Артур Григорьевич Федоров (СВФУ ФТИ)

Presentation materials

There are no materials yet.